2024年天津大學(xué)非全日制研究生招生考試《測控技術(shù)基礎(chǔ)》考試大綱
一、考試的總體要求
掌握測控技術(shù)或智能感知的基礎(chǔ)知識和基本理論，并能合理運用解決實際問題。
二、考試的內(nèi)容及比例
考試內(nèi)容分為A、B、C三個模塊，考生可任選其中一個模塊。A模塊為精密測量理論與技術(shù)基礎(chǔ)，B模塊為測控電路，C模塊為傳感技術(shù)。
(一)A模塊：精密測量理論與技術(shù)基礎(chǔ)
1. 測量技術(shù)
主要內(nèi)容：測量的基本概念;測量系統(tǒng)的組成，測量系統(tǒng)的靜態(tài)特性。
基本要求：測量、測試、計量的基本概念，國際單位制，測量標(biāo)準(zhǔn)，量值傳遞與溯源，標(biāo)定、檢定與校準(zhǔn);測量系統(tǒng)的組成及各部分功能;測量系統(tǒng)(儀器)的靜態(tài)特性。
2. 測量誤差
主要內(nèi)容：測量誤差的基本概念。
基本要求：測量誤差的定義及表示方法、分類和特征;實驗標(biāo)準(zhǔn)偏差的求取方法。
3. 測量不確定度
主要內(nèi)容：測量不確定度的概念，測量不確定度的評定。
基本要求：測量不確定度的基本術(shù)語，不確定度的來源;標(biāo)準(zhǔn)不確定度的兩類評定、合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度和擴(kuò)展不確定度的求取方法;不確定度報告。
4. 長度量測量
主要內(nèi)容：長度測量的標(biāo)準(zhǔn)量和標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境，阿貝原則，長度尺寸測量，坐標(biāo)測量，形位誤差測量，表面粗糙度測量。
基本要求：長度測量的標(biāo)準(zhǔn)量和標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境;阿貝原則;長度的直接測量和間接測量、絕對測量和相對測量方法及各種常用測量儀器;三坐標(biāo)測量機(jī)的組成、工作原理、測量數(shù)據(jù)處理方法;視覺三維測量系統(tǒng)的組成、基本工作原理、工程測量中的應(yīng)用;形位誤差測量的基本概念、測量方法和步驟;直線度誤差的概念和評定方法，常用測量方法和儀器;表面粗糙度評定基準(zhǔn)和參數(shù)，常用測量儀器。
5. 角度量測量
主要內(nèi)容：角度的自然基準(zhǔn)、實物基準(zhǔn)和圓周封閉原則，角度尺寸的測量，圓分度誤差的測量。
基本要求：角度的自然基準(zhǔn)、實物基準(zhǔn)和圓周封閉原則;角度的接觸式測量和非接觸式測量方法及常用測量儀器;圓分度誤差的評定指標(biāo);圓分度誤差的絕對測量和相對測量方法。
由于篇幅所限，試題就暫時為大家展示到這里，具體的試題及解析還請大家點擊附件下載！
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